Quando è utile:

  • Failure analysis :
    • morfologie di rottura, danneggiamento, corrosione e usura per l’identificazione di cause e meccanismo
    • indagine su difetti, cricche, depositi, inclusioni, ecc. per definirne natura e possibili cause
  • Studio della morfologia e topografia superficiale per la verifica di trattamenti e rivestimenti
  • Analisi di immagine e misura di lunghezze
    • con elevati ingrandimenti (nominalmente fino a oltre 100000X)
    • con risoluzione nominale fino a livello nanometrico
  • Analisi di campioni organici (polimeri, compositi, vernici, ecc.) senza metallizzazione con tecnologia a basso vuoto (LV)
  • Immagini con discriminazione di zone a diversa composizione tramite sonda ad elettroni retrodiffusi
  • Approfondimenti microstrutturali su sezioni
  • Analisi chimica puntuale tramite microanalisi con sonda EDS abbinata (vedi scheda dedicata).

Caratteristiche principali:

  • Immagini di superfici ad elevata risoluzione e alto ingrandimento
  • Analisi di materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e film
  • Studio della morfologia e della topografia di superfici
  • Indagini frattografiche
  • Può essere una tecnica distruttiva

NCS lab utilizza lo strumento JEOL JSM6390LV, dotato di sonde per elettroni secondari e retrodiffusi, operatività in alto e basso vuoto, comandi motorizzati per la movimentazione del campione in camera, sonda EDS.